材料解析メニュー
Materials Analysis Menu| 手法 | 取得できる情報 | 適用材料例 | |
| 放射光 分光 （Spring-8） |
粉末X線回析 XRD |
結晶構造、合金化度 | 触媒 |
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X線吸収分光 XAFS |
局所構造、価数、合金化度 | ||
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X線小角散乱 SAXS |
平均粒子径、分布 | ||
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X 線全散乱 |
非晶質構造、粒子径分布 | ||
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硬X線光電子分光 HAXPES |
電子状態、d-band center | ||
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X線小角／広角散乱 SAXS／WAXS |
微細高次構造、結晶構造、配向度 | 電解質膜 | |
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軟X線吸収分光 XAFS |
官能基 | ||
| 顕微鏡 |
透過電子顕微鏡 TEM／STEM |
結晶構造／ひずみ、粒子形状／分布 | 触媒 |
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電子回析 ED |
局所結晶構造 | ||
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エネルギー分散型X線解析 EDX |
元素分布 | ||
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電子エネルギー損失分光 EELS |
局所電子状態 | ||
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電子線トモグラフィー 3D-TEM |
3次元構造可視化 | ||
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クライオ電子顕微鏡 Cryo-EM | アイオノマ被覆状態など | MEA | |
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集束イオンビーム-走査電子顕微鏡 FIB-SEM | 3次元構造可視化 | ||
| 振動分光 | ラマン分光／IR | 構造、官能基 | 電解質 |
| 電気化学 | オペランド電気化学分光 | in-situ反応状態 | 触媒 |
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回転ディスク電極 RDE |
触媒活性 | ||
| MEA評価 | BOL／EOL性能＠AST | MEA |
電気化学測定メニュー
Electrochemical Measurement Menu