材料解析メニュー

Materials Analysis Menu
     
手法 取得できる情報 適用材料例
放射光 分光
(Spring-8)

粉末X線回析

XRD

結晶構造、合金化度 触媒

X線吸収分光

XAFS

局所構造、価数、合金化度

X線小角散乱

SAXS

平均粒子径、分布

X 線全散乱

PDF

非晶質構造、粒子径分布

硬X線光電子分光

HAXPES

電子状態、d-band center

X線小角/広角散乱

SAXS/WAXS

微細高次構造、結晶構造、配向度 電解質膜

軟X線吸収分光

XAFS

官能基
顕微鏡

透過電子顕微鏡

TEM/STEM

結晶構造/ひずみ、粒子形状/分布 触媒

電子回析

ED

局所結晶構造

エネルギー分散型X線解析

EDX

元素分布

電子エネルギー損失分光

EELS

局所電子状態

電子線トモグラフィー

3D-TEM

3次元構造可視化

クライオ電子顕微鏡

Cryo-EM

アイオノマ被覆状態など MEA

集束イオンビーム-走査電子顕微鏡

FIB-SEM

3次元構造可視化
振動分光 ラマン分光/IR 構造、官能基 電解質
電気化学 オペランド電気化学分光 in-situ反応状態 触媒

回転ディスク電極

RDE

触媒活性
MEA評価 BOL/EOL性能@AST MEA

電気化学測定メニュー

Electrochemical Measurement Menu